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| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 13934240 |  |
EC SEMICONDUCTOR | 2014-01-17 | 节能领域的咨询；水质分析；环境保护领域的研究；替他人研究和开发新产品；提供关于碳抵消的信息、建议和咨询；科学实验室服务；机械研究；材料测试；造型（工业品外观设计）；计算机硬件设计和开发咨询； | 查看详情 |
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN103474380B | 晶圆电性测试墨点清除器 | 2015.12.30 | 本发明公开了一种晶圆电性测试墨点清除器，包括滴管和吸嘴；所述吸嘴包括管体、棉头、固定套、接真空的软管 |
| 2 | CN203738787U | 控制测试头在XY平面内精确运动定位的机械手臂 | 2014.07.30 | 本实用新型公开了一种控制测试头在XY平面内精确运动定位的机械手臂，由三节手臂连接组成，第一节手臂为沿 |
| 3 | CN102565672B | 基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路 | 2014.09.17 | 本发明涉及一种基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备和被测射频功率放大器 |
| 4 | CN102565674B | 基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路 | 2014.09.17 | 本发明涉及一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括PXI测试信号源、PXI测试 |
| 5 | CN203743765U | 控制测试头在Z轴上运动定位的升降装置 | 2014.07.30 | 本实用新型公开了一种控制测试头在Z轴上运动定位的升降装置，包括底座、导轨、定滑轮、配重块、钢丝绳，所 |
| 6 | CN203587130U | 半导体芯片测试底板 | 2014.05.07 | 本实用新型公开了一种半导体芯片测试底板，其上开设定位孔，所述定位孔为椭圆形。本实用新型的优点是对测试 |
| 7 | CN203519027U | 半导体芯片测试板 | 2014.04.02 | 本实用新型公开了一种半导体芯片测试板，包括板体、射频接头，所述板体前端走线为微带线，所述板体后端走线 |
| 8 | CN103672328A | 控制测试头在Z轴上运动定位的升降装置 | 2014.03.26 | 本发明公开了一种控制测试头在Z轴上运动定位的升降装置，包括底座、导轨、定滑轮、配重块、钢丝绳，所述导 |
| 9 | CN103624776A | 控制测试头在XY平面内精确运动定位的机械手臂 | 2014.03.12 | 发明公开了一种控制测试头在XY平面内精确运动定位的机械手臂，由三节手臂连接组成，第一节手臂为沿Z轴直 |
| 10 | CN203456427U | 晶圆电性测试墨点清除器 | 2014.02.26 | 本实用新型公开了一种晶圆电性测试墨点清除器，包括滴管和吸嘴；所述吸嘴包括管体、棉头、固定套、接真空的 |
| 11 | CN103474380A | 晶圆电性测试墨点清除器 | 2013.12.25 | 本发明公开了一种晶圆电性测试墨点清除器，包括滴管和吸嘴；所述吸嘴包括管体、棉头、固定套、接真空的软管 |
| 12 | CN103453924A | 半导体芯片测试底板 | 2013.12.18 | 本发明公开了一种半导体芯片测试底板，其上开设定位孔，所述定位孔为椭圆形。本发明的优点是对测试底板上的 |
| 13 | CN103454569A | 半导体芯片测试板 | 2013.12.18 | 本发明公开了一种半导体芯片测试板，包括板体、射频接头，所述板体前端走线为微带线，所述板体后端走线为半 |
| 14 | CN202909962U | 一种能测高低温的高速转盘式芯片分选机 | 2013.05.01 | 本实用新型提供了一种能测高低温的高速转盘式芯片分选机，包括给料器（1）、器件排队区（2）、测试区一（ |
| 15 | CN202916404U | 芯片手测器 | 2013.05.01 | 本实用新型涉及一种芯片手测器，可以测试不同厚度芯片。结构为：一种芯片手测器，包括压盖（100）和盖片 |
| 16 | CN202909969U | 探针卡自动清洁装置 | 2013.05.01 | 为了针测机自动清针装置一次性接触所有探针，达到一次全部清针的目的，节约清针的时间，本实用新型提供了一 |
| 17 | CN202917182U | 一种MicroSD卡测试座 | 2013.05.01 | 本实用新型涉及半导体芯片测试领域,具体来说通过对某些半导体设备的改造来提高设备的测试性能,减少产品复 |
| 18 | CN202917455U | 防撞针装置 | 2013.05.01 | 本实用新型涉及晶圆测试机。现有晶圆测试机中由于人工的误操作而发生撞针情况从而使晶圆和探针发生损坏。本 |
| 19 | CN202911973U | 半自动载带重封机以及控制电路 | 2013.05.01 | 本实用新型提供一种半自动载带重封机以及控制电路，半自动载带重装机的结构为：包括手动按压(1)和载带放 |
| 20 | CN202917459U | 半导体全自动转塔式测试分选打标编带一体机 | 2013.05.01 | 为了解决现有半导体全自动转塔测试分选打标编带一体机无法精确检测载带的空盘情况，本实用新型提供了一种半 |
| 21 | CN102565672A | 基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路 | 2012.07.11 | 本发明涉及一种基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备和被测射频功率放大器 |
| 22 | CN102565674A | 基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路 | 2012.07.11 | 本发明涉及一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括PXI测试信号源、PXI测试 |
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